1.環(huán)境條件的影響及消減

(1)溫度的影響及消減方法

檢定間溫度過(guò)高或過(guò)低及檢定期間溫差大，會(huì)導(dǎo)致電子天平示值產(chǎn)生較大的漂移。因此，檢定間應(yīng)配備空調(diào)，檢定前嚴(yán)格按照J(rèn)JG1036-2008《電子天平檢定規(guī)程》的要求將室內(nèi)溫度控制在(-10～+40)℃之間(天平說(shuō)明書中無(wú)嚴(yán)格要求時(shí))。開始檢定時(shí)切記關(guān)閉門窗，室內(nèi)檢定人員不要超過(guò)兩人，且室內(nèi)要配備經(jīng)周檢合格的溫度計(jì)時(shí)刻監(jiān)控溫度變化，確保檢定期間溫差變化滿足天平檢定條件要求:特種準(zhǔn)確度級(jí)得不大于1℃，對(duì)于高準(zhǔn)確度級(jí)、中準(zhǔn)確度級(jí)、普通準(zhǔn)確度級(jí)的不大于5℃。

(2)濕度的影響及消減方法

檢定間濕度過(guò)高容易造成天平某些零件銹蝕，濕度過(guò)低會(huì)在稱量時(shí)產(chǎn)生靜電從而導(dǎo)致檢定示值產(chǎn)生漂移。因此，檢定中應(yīng)嚴(yán)格按照J(rèn)JG1036-2008的要求將濕度控制在:特種準(zhǔn)確度級(jí)的相對(duì)濕度不大于80%，對(duì)于高準(zhǔn)確度級(jí)、中準(zhǔn)確度級(jí)、普通準(zhǔn)確度級(jí)的相對(duì)濕度不大于85%。為達(dá)到上述要求，可在室內(nèi)配備加濕器、放一盆水、濕毛巾等，同時(shí)配備經(jīng)周檢合格的濕度計(jì)加以監(jiān)控即可。

(3)氣流、電磁干擾等的影響及消減方法

檢定間的氣流、電磁干擾源及振動(dòng)源等會(huì)造成天平稱量示值不穩(wěn)定，干擾正常讀數(shù)，造成檢定誤差。為此檢定時(shí)要確保室內(nèi)無(wú)氣流，關(guān)閉空調(diào)、排風(fēng)扇等，遠(yuǎn)離電磁干擾源及振動(dòng)源，嚴(yán)禁在檢定平臺(tái)上記錄檢定數(shù)據(jù)等。

2.水平狀態(tài)的影響及消減方法

檢定中必須保證電子天平處于水平狀態(tài)，否則電磁力會(huì)為糾正失衡狀態(tài)發(fā)生值的改變，從而引起測(cè)量誤差。為此JJG1036-2008規(guī)定電子天平檢定時(shí)要將天平放置在一平整、穩(wěn)固的平臺(tái)上，并且調(diào)整到水平位置。大多數(shù)天平左上角有一個(gè)水平圈，其內(nèi)有水平泡，當(dāng)水平泡沒(méi)有處于水平圈中間時(shí)，通過(guò)旋轉(zhuǎn)調(diào)平底座使水平泡回到中間，即可使天平處于水平位置。對(duì)于因條件限制無(wú)法調(diào)至水平狀態(tài)的，可選用質(zhì)地硬的塑料薄片或鐵片墊入天平偏低的底座下。

3.預(yù)熱時(shí)間的影響及消減方法

天平在預(yù)熱階段，其內(nèi)部元件溫度不斷升高，磁通量會(huì)逐漸下降，電流也會(huì)減小，這就導(dǎo)致電磁力變小從而引起測(cè)量示值呈漂移狀態(tài)。不同型號(hào)的天平預(yù)熱時(shí)間往往不同，具體要求一般在天平說(shuō)明書中有詳細(xì)規(guī)定，這就要求檢定人員應(yīng)嚴(yán)格按照說(shuō)明書中規(guī)定的時(shí)間進(jìn)行預(yù)熱，對(duì)于準(zhǔn)確度等級(jí)高的電子天平必要時(shí)可延長(zhǎng)預(yù)熱時(shí)間，這里需要強(qiáng)調(diào)的是預(yù)熱時(shí)間只能延長(zhǎng)不能縮短。而實(shí)際檢定中許多檢定員為節(jié)省時(shí)間，根本不對(duì)天平進(jìn)行預(yù)熱，采用的都是即開即檢，這也是導(dǎo)致檢定數(shù)據(jù)不準(zhǔn)的主要原因。

4.自校程序的影響及消減方法

JJG1036-2008規(guī)定檢定前需對(duì)天平進(jìn)行校準(zhǔn)，檢定人員往往在天平開啟后看到指示裝置示值為零，就習(xí)慣上認(rèn)為天平稱量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確度符合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，于是自作主張將天平自校程序省略。這里要強(qiáng)調(diào)的是天平開機(jī)后顯示零點(diǎn)只能說(shuō)明天平零位穩(wěn)定性合格，不能說(shuō)明天平稱量的數(shù)據(jù)準(zhǔn)確度符合測(cè)試技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。應(yīng)嚴(yán)格按照J(rèn)JG1036-2008的要求進(jìn)行自校，自校方法分為內(nèi)校和外校。操作者可根據(jù)天平性能特點(diǎn)自行選擇自校方法。

5.標(biāo)準(zhǔn)砝碼選擇的影響及消減方法

檢定過(guò)程中，若誤選了一組準(zhǔn)確度等級(jí)不高或穩(wěn)定性差的砝碼作為標(biāo)準(zhǔn)砝碼來(lái)檢定電子天平，那么測(cè)得數(shù)據(jù)的可靠性不能得到保證，也就不能對(duì)天平計(jì)量性能指標(biāo)作出全面正確的評(píng)價(jià)。因此務(wù)必把好標(biāo)準(zhǔn)砝碼的選擇關(guān)，要嚴(yán)格按照J(rèn)JG1036-2008和JJG99-2006《砝碼檢定規(guī)程》的要求:

選擇的標(biāo)準(zhǔn)砝碼的擴(kuò)展不確定度(k=2)要小于或等于被檢天平在該載荷下最大允許誤差的絕對(duì)值的1/3；砝碼的重復(fù)性和穩(wěn)定性要達(dá)標(biāo)，即在規(guī)定的準(zhǔn)確度范圍內(nèi)，任何一個(gè)質(zhì)量標(biāo)稱值為m0的單個(gè)砝碼，其相鄰兩個(gè)周期的檢定結(jié)果之差不得超過(guò)該砝碼最大允許誤差的1/3。